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公司公告

半导体材料中少子寿命的常见问题及解答

半导体材料中少子寿命的常见问题及解答

2025-05-29

半导体材料中少子寿命的常见问题及解答

共 1 条

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产品: 材料3D实时动态显微镜 MEMS 半导体; Zeta-300 光学轮廓仪表面轮廓测试系统; LOANA; 少子寿命测试仪 WCT-120MX; FastEQE 高速量子效率测试仪; 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭; WCT-120 / 120MX硅片寿命测试仪; 电化学ECV 掺杂浓度检测电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪电化学CV载流子浓度结深测试仪; 接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 多功能太阳电池栅线接触电阻测试仪

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